Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/11499/3118
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.editorErsöz, Mustafa-
dc.contributor.editorSulak, Mine-
dc.contributor.editorBersani, Massimo-
dc.contributor.editorIşıtan, Arzum-
dc.contributor.editorBalaban, Meltem-
dc.contributor.editorYakar, Zeha-
dc.contributor.editorÜnlü, Cumhur Gökhan-
dc.contributor.editorOnar, Volkan-
dc.date.accessioned2018-11-15T08:53:10Z
dc.date.available2018-11-15T08:53:10Z
dc.date.issued2018-
dc.identifier.isbn978-975-6992-81-4-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11499/3118-
dc.descriptionBu kitabın basım, yayım ve satış hakları Pamukkale Üniversitesi’ne aittir. Bütün hakları saklıdır. Kitabın tümü ya da bölümü / bölümleri Pamukkale Üniversitesi’nin yazılı izni olmadan elektronik, optik, mekanik ya da diğer yollarla basılamaz, çoğaltılamaz ve dağıtılamaz.en_US
dc.description.abstractKarakterizasyon, nanomalzeme gelişiminde temel araştırmadan üretim faaliyetine kadarki tüm aşamalarda çok büyük öneme sahiptir. Nanomalzemelerin ve ilgili teknolojilerin etkin bir doğruluk düzeyi ve verimlilik sağlaması gerekiyorsa, özel analitik tekniklerin de (nanometroloji) önemi göz ardı edilemez. Nanometrolojinin, kimyasal ve fiziksel özellikler, elektriksel ve yapısal özellikler, ısıl ve tribolojik özellikler ve nanometre ya da altı seviyede üç boyutlu uzamsal çözünürlükle ilgili eksiksiz malzeme karakterizasyonu sağlamalıdır. Nanomalzeme özelliklerini ve davranışlarını anlamak için analitik cihazları ve ilgili metodolojiyi geliştirmek ve yükseltmek gereklidir. Temel araştırma, uygulamaların gelişimini anlamaya yönelik temel mekanizmalar ve endüstriyel üretimin izlenmesi, son derece güçlü ve eksiksiz bir analitik yaklaşım gerektirir. Mikroelektronik teknolojisindeki inanılmaz gelişim, zorunlu ve vazgeçilmez faktörleri ortaya koymuştur. Aslında mikroelektronik gelişim, başlangıçtan itibaren metroloji desteğiyle karakterize edilmiştir. Özel analitik tekniklerin ve spesifik yöntemlerin etkisi olmasaydı, mikroelektronik, hayatlarımıza bugünkü etkiyi ve gelişmeleri sağlayamazdı. Nanoteknoloji alanında, analitik tekniklerin etkisi, mümkün olduğunca, daha önemli olacaktır. Şekil 1.1.1’de genel olarak kullanılan analitik tekniklerin şeması verilmiştir. Örneklerde yerel girdi oluşturmak için iyi tanımlanmış bir prob kullanılmıştır. Örnek geri beslemesi, spesifik bir bölgeden gelen çeşitli sinyal emisyonlarıdır. Analiz süreci, bu sinyallerin uygun bir analizör tarafından kaydedilmesidir. Önemli konulardan biri de örnek üzerine verilen primer ışın modifikasyonları ile ilgilidir. Genelde, primer ışın ile ilişkili girdi enerjisi aşağıdaki gibi etkiler doğurur: kimyasal reaksiyonlar, difüzyon, yeniden kristallenme, morfolojik deformasyon. ~ 12 ~ Analizin gerektirdiği ortamla ilişkili ciddi kısıtlamalar da söz konusu olabilir. Pek çok teknik, biyolojik ve polimerik nanomalzemeler gibi çok sayıda numuneye uygun olmayan Ultra Yüksek Vakum ortamının kullanılmasını gerektirir. Diğer kısıtlamalar arasında ise örneklerin çok kez yalıtım özellikleri, genel morfolojileri ve kullanım olasılıkları açısından değerlendirilmesi bulunmaktadır. Bazı durumlarda büyük bir örnek gereklidir.en_US
dc.language.isoenen_US
dc.publisherPamukkale Üniversitesi Yayınlarıen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectNano tekstilen_US
dc.subjectNano fiberen_US
dc.subjectAkıllı tekstilen_US
dc.titleNanoteknoloji 2: karakterizasyon ve uygulamalaren_US
dc.title.alternativeNanotechnology 2: characterization and applicationsen_US
dc.typeBooken_US
dc.relation.publicationcategoryKitap - Uluslararasıen_US
dc.ownerPamukkale University-
item.languageiso639-1en-
item.cerifentitytypePublications-
item.fulltextWith Fulltext-
item.openairetypeBook-
item.grantfulltextopen-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_18cf-
Appears in Collections:Pamukkale Üniversitesi Yayınları Kitap Koleksiyonu
Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Nanoteknoloji 2 Karakterizasyon ve Uygulamalar.pdf30.21 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Nanotechnology 2 Characterization and Applications.pdf30.33 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record



CORE Recommender

Page view(s)

838
checked on Aug 24, 2024

Download(s)

788
checked on Aug 24, 2024

Google ScholarTM

Check




Altmetric


Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.